您现在的位置:主页 > 宏观 >

昇维旭申请半导体结构及其形成方法专利,提高半导体结构的工作性能

标签: 日期:2025-02-23 00:07来源:未知作者:admin
国家知识产权局信息显示,深圳市昇维旭技术有限公司申请一项名为半导体结构及其形成方法的专利,公开号CN 119403185 A,申请日期为2024年9月。 专利摘要显示,一种半导体结构及其形成方法,结构包括:衬底;栅极结构,位于衬底上;沟道柱,位于衬底上、且沿

  国家知识产权局信息显示,深圳市昇维旭技术有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法”的专利,公开号CN 119403185 A,申请日期为2024年9月。

   专利摘要显示,一种半导体结构及其形成方法,结构包括:衬底;栅极结构,位于衬底上;沟道柱,位于衬底上、且沿纵向贯穿栅极结构;侧墙,沿纵向延伸位于沟道柱侧壁与栅极结构之间;补偿层,填充于侧墙底部位置处,沟道柱与栅极结构之间的空隙中。本发明有利于提高半导体结构的工作性能。

   天眼查资料显示,深圳市昇维旭技术有限公司,成立于2022年,位于深圳市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本500000万人民币,实缴资本500000万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市昇维旭技术有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目11次,知识产权方面有商标信息47条,专利信息83条,此外企业还拥有行政许可13个。

顶一下
(0)
0%
踩一下
(0)
0%
相关文章
共有人强势围观,期待你的评论!评论区
小提示: 本站的评论不需要审核,即发即显,有什么话你就尽管说吧,但不要过激哦,以免遭跨省处理!

验证码:点击我更换图片 匿名评论
最新评论