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长鑫科技申请熔丝单元检测方法与测试设备专利,提高存储芯片的可靠性

标签: 日期:2025-02-04 08:41来源:未知作者:admin
国家知识产权局信息显示,长鑫科技集团股份有限公司申请一项名为熔丝单元检测方法与测试设备的专利,公开号CN 119380796 A,申请日期为2023年7月。 专利摘要显示,本公开提供一种熔丝单元检测方法与测试设备。熔丝单元检测方法包括:在第一温度下读取熔丝单

  国家知识产权局信息显示,长鑫科技集团股份有限公司申请一项名为“熔丝单元检测方法与测试设备”的专利,公开号CN 119380796 A,申请日期为2023年7月。

   专利摘要显示,本公开提供一种熔丝单元检测方法与测试设备。熔丝单元检测方法包括:在第一温度下读取熔丝单元阵列,获取第一数据,所述熔丝单元阵列包括多个熔丝单元;在第二温度下读取所述熔丝单元阵列,获取第二数据,所述第二温度低于所述第一温度;在所述第二数据不等于所述第一数据时,根据所述第一数据和所述第二数据的比较结果确定待处理熔丝单元;在所述第二温度下对所述待处理熔丝单元进行修复。本公开实施例可以提高存储芯片的可靠性。

   天眼查资料显示,长鑫科技集团股份有限公司,成立于2016年,位于合肥市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本5777094.224万人民币,实缴资本5363300万人民币。通过天眼查大数据分析,长鑫科技集团股份有限公司共对外投资了17家企业,参与招投标项目1088次,知识产权方面有商标信息207条,专利信息227条,此外企业还拥有行政许可28个。

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