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中微半导体申请用于GaN HEMT的相关专利,外延层表面缺陷可得到明显改善

标签: 日期:2025-02-22 23:50来源:未知作者:admin
国家知识产权局信息显示,中微半导体有限公司申请一项名为用于GaN HEMT的超晶格结构、缓冲层、GaN HEMT外延片及生长方法的专利,公开号CN 119403191 A,申请日期为2024年12月。 专利摘要显示,本发明公开了一种用于GaN HEMT的超晶格结构、缓冲层、GaN HEMT外

  国家知识产权局信息显示,中微半导体有限公司申请一项名为“用于GaN HEMT的超晶格结构、缓冲层、GaN HEMT外延片及生长方法”的专利,公开号CN 119403191 A,申请日期为2024年12月。

   专利摘要显示,本发明公开了一种用于GaN HEMT的超晶格结构、缓冲层、GaN HEMT外延片及生长方法。所述超晶格结构包含:N个AlN/GaN/AlGaN叠层结构,所述AlN/GaN/AlGaN叠层结构包含由下至上依次堆叠生长的AlN层、GaN层及AlGaN层,N为大于1的整数。本发明制备的超晶格结构在AlN层与AlGaN层之间插入GaN层,GaN层不仅可以降低AlN层的表面缺陷,还可以抵消一部分压应力,减少应力缺陷,并且GaN在生长时的原子横向迁移能力更强,这样外延层表面缺陷可以得到明显改善。

   天眼查资料显示,中微半导体有限公司,成立于2020年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本100000万人民币,实缴资本94784.41444万人民币。通过天眼查大数据分析,中微半导体有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目10次,专利信息13条,此外企业还拥有行政许可13个。

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