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南大光电:缺陷检测设备对28nm以下制程芯片用光刻胶的检测有重要

标签: 日期:2023-02-11 12:06来源:未知作者:admin
有投资者在投资者互动平台提问:11月18日,你回复说缺陷检测设备尚未完成采购,12月2日,你回复说缺陷检测设备主要针对28nm以下,而公司的ArF胶聚焦28-90nm,检测设备如光刻机已正常投入使用 请问,目前正常使用的光刻机是什么时候采购的?缺陷检测设备既不

  有投资者在投资者互动平台提问:11月18日,你回复说“缺陷检测设备尚未完成采购”,12月2日,你回复说“缺陷检测设备主要针对28nm以下,而公司的ArF胶聚焦28-90nm,检测设备如光刻机已正常投入使用” 请问,目前正常使用的光刻机是什么时候采购的?缺陷检测设备既不是目前主要攻关课题,为何要抓紧采购?

  南大光电2月3日在投资者互动平台表示,光刻机于2020年上半年采购进厂。 缺陷检测设备对28nm以下制程芯片用光刻胶的检测有重要作用。

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